成分分析
  形貌分析
  结构分析
X射线衍射仪(XRD)
傅立叶变换红外光谱仪
偏光金相显微镜
紫外、可见、近红外分光光度计
  半导体分析

 

  首页 分析测试 结构分析 X射线衍射仪(XRD)
X射线衍射仪(XRD)
阅读次数:3227 添加时间:2014-6-18

设备型号:D8 ADVANCE

设备厂商:德国BRUKER

设备简介:

    最大输出功率3.0 kW最大管压60kV,最大管流80mA测角仪半径≥200 mm,连续可调,2θ转动范围:-110º~168º,可读最小步长:0.0001º,角度重现性:0.0001º

测试范围:

    对金属和非金属多晶粉末、块状及片状样品进行物相检索分析、物相定量分析、基本参数法线形分析分析、晶胞参数计算和固溶体分析、微观及宏观应力分析。

联系人:杨学根    电话:0518-87027282


本文共分 1



上一篇:没有了
下一篇:没有了

Copyright © 2011-2014 南京工业大学东海先进硅基材料研究院 All Rights Reserved.
苏ICP备13059421

苏公网安备 32072202010127号

www.dhgcl.com