设备型号：Mastersizer 2000

设备厂商：英国 Malvern

设备简介：

    全量程采用单一透镜实现0.02-2000微米的测量；重复性误差≤±0.5%， 准确性误差≤±1%；检测器使激光衍射光路检测角度达0～135。

测试范围：

    粒径0.02-2000微米粉体粒度分布，适合硅微粉、碳化硅及石英砂、颗粒状多晶硅的粒度分析。

联系人：杨学根    电话：0518-87027282